冷熱沖擊試驗箱廠家有一款可以瞬間從高溫極速轉(zhuǎn)到低溫的試驗設(shè)備，用于試驗材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)被轉(zhuǎn)換的環(huán)境下所能忍受的程度，得以在Z短時間內(nèi)試驗試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。結(jié)構(gòu)有分為兩箱式和三箱式，區(qū)別在于試驗方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。本設(shè)備還可以用于高、低溫的可靠性環(huán)境模擬試驗。對電子電工、航空航天、汽車摩托、光電、LED、橡膠、照明、塑膠、金屬、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫及冷熱循環(huán)變化的情況下,檢驗其各項性能指標。

技術(shù)：
一、AP-CJ-50內(nèi)箱尺寸：350×350×400外箱尺寸：1560×1750×1440
二、AP-CJ-80內(nèi)箱尺寸：500×400×400外箱尺寸：1700×1800×1440
三、AP-CJ-100內(nèi)箱尺寸：600×400×400外箱尺寸：1800×1800×1440
四、AP-CJ-150內(nèi)箱尺寸：600×500×500外箱尺寸：1800×1900×1540
五、AP-CJ-250內(nèi)箱尺寸：700×600×600外箱尺寸：1900×2000×1640
六、AP-CJ-480內(nèi)箱尺寸：800×800×750外箱尺寸：2020×2250×2150
七、低溫沖擊可選擇溫度范圍：A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃高溫150℃
八、溫度偏差：±2℃
九、溫度波動度：±0.5℃。 
十一、溫度恢復(fù)時間：≤5min。 
十二、溫度恢復(fù)條件：高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。
十三、溫度沖擊轉(zhuǎn)移方式：采用氣動驅(qū)動。   
十四、高溫室儲溫的升溫時間：30min (+25℃～+200℃)。 
十五、低溫室儲溫的降溫時間：65min (+25℃～-75℃)。
十六、分為冷溫室、熱溫室、測試室三部分,采*之斷熱結(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗時待測物*靜止，應(yīng)用冷熱風路切換方式將冷、熱溫度導(dǎo)入測試區(qū)實現(xiàn)耐冷熱老化試測試目的。
十七、結(jié)構(gòu)合理、外形美觀、工藝*、選材考究、使用安全，無后顧之憂。
十八、采用觸控式液晶（LCD）顯示人機介面控制器，計測裝置, 學(xué)習(xí)容易,操作簡單, 穩(wěn)定可靠,中，英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。
十九、具100個試驗規(guī)范獨立設(shè)定,Z大沖擊時間999小時59分鐘, 循環(huán)周期1~999次可設(shè)定, 可實現(xiàn)制冷機自動運轉(zhuǎn)，*上實現(xiàn)自動化，減輕操作人員工作量，可在任意時間自動啟動﹑停止工作運行。
二十、可獨立設(shè)定耐冷熱老化及高溫、低溫三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱老化試驗條件時,可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進行沖擊之功能，具備高低溫試驗箱的功能。具備全自動，高精密系統(tǒng)回路、任一機件動作，*有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動演算控制,溫度控制精度高。
二十、出風口與回風口感知器檢測控制，風門機構(gòu)切換時間為10秒內(nèi)完成，冷熱沖擊溫度恢復(fù)時間為5分鐘內(nèi)完成。
二十一、*的空氣流通循環(huán)設(shè)計，使室內(nèi)溫度均勻，避免任何死角;完備的安全保護裝置，避免了任何可能發(fā)生安全隱患，保證設(shè)備的長期可靠性可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動（手動） 除霜。
二十二、冷凍系統(tǒng)采用二元高效低溫回路系統(tǒng)設(shè)計，采用*壓縮機，并采用對臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保（HFC）制冷劑R404，R23.品牌為*杜邦。
二十三、完備的安全保護裝置，發(fā)生異常狀況時,熒幕上即刻自動顯示故障點及原因和提供排除故障的方法,并于發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時,具有緊急停機裝置。
二十四、.*安全保護功能：電源過載保護、漏電保護、控制回路過載、短路保護、壓縮機保護、接地保護、超溫保護、報警聲訊提示等。
冷熱沖擊試驗箱廠家滿足以下標準：
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A低溫、GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫、GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件、GB10592-89冷熱沖擊試驗箱標準、GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件、GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備、GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高低溫試驗導(dǎo)則、GJB 150.5-1986 軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 溫度沖擊試驗、QC/T 17-1992 汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則 汽車行業(yè)標標準等等包括其它產(chǎn)品行業(yè)標準。